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        最新公告:《ISO恒溫恒濕實驗室驗收標準》 《ISO恒溫恒濕實驗室要達到ISO187-90 23℃±1℃ 50±2% RH GB10739-89、ISO139-73、GB6529-86 20℃±1℃ 65±2% RH標準》 驗收條件: 溫度:18℃-40℃ ±1℃ 濕度:35%-90%RH ±2% Rh 溫度 濕度 1.穩定后10min均值差。 t±1.0℃ U±2.0 2.某一點任一個30min周期內大波動值 t≤1.0℃ U≤2.0%RH. 3.任意兩點在任一瞬間的測量差值 t≤0.5℃ U≤2.0%RH. 4. 同一點24h任兩個30min周期內波動值 t≤0.5℃ U≤1%RH. 5. 新鮮空氣補充量 0.5m3/人min 6. 室內空氣循環次數 15次/h以上,30/h次以下
        售后服務熱線:
        400 111 8919
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        冷熱沖擊試驗機-應力篩選型

         

        為了仿真不同電子構件,在實際使用環境中遭遇的溫度條件,改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)。

         

          設備特點

         

        ◆ 可執行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能

        ◆ 等均溫速率可設定范圍5℃~30℃(40℃)

        ◆ 滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求

        ◆ 采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行

        ◆ 除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成

        ◆ 通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能

        ◆ 感測器放置測試區出(回)風口符合實驗有效性

        ◆ 機臺多處報警監測,配置無線遠程報警功能

         

          應用標準

         

        1.GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術條件

        2.GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術條件

        3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術條件

        4.GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法

        5.GB/T 2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法 

        6.GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度變化試驗方法

        7.GJB150.3-1986高溫試驗

        8.GJB150.4-1986低溫試驗

         

        滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求

         

        產品&規范

        廠商名稱

        高溫

        低溫

        溫變率

        循環數

        循環時間

        備注

        MIL-STD-2164、GJB-1032-90
        電子產品應力篩選

        ——

        工作極限溫度

        工作極限溫度

        5℃/min

        10~12

        3h20min

        ——

        MIL-344A-4-16
        電子設備環境應力篩選

        設備或系統

        71℃

        -54℃

        5℃/min

        10

        —— ——

        MIL-2164A-19
        電子設備環境應力篩選方法

        ——

        工作極限溫度

        工作極限溫度

        10℃/min

        10

        ——

        駐留時間為內部達到指定溫度10℃時

        NABMAT-9492
        美軍海軍制造篩選

        設備或系統

        55℃

        -53℃

        15℃/min

        10

        ——

        駐留時間為內部達到指定溫度5℃時

        GJB/Z34-5.1.6
        電子產品定量環境應力篩選指南

        組件

        85℃

        -55℃

        15℃/min

        ≧25

        ——

        達到溫度穩定的時間

        GJB/Z34-5.1.6
        電子產品定量環境應力篩選指南

        設備或系統

        70℃

        -55℃

        5℃/min

        ≧10

        ——

        達到溫度穩定的時間

        筆記本電腦

        主板廠商

        85℃

        -40℃

        15℃/min

        —— —— ——

         

          技術參數

         

        Models

        BYR-A

        BYR-B

        BYR-C

        BYR-D

        Inside Dimensions
        W x D x H cm

        40X35X35

        50X50X40

        60X50X50

        70X60X60

        Outside Dimensions
        W x D x H cm

        140X165X165

        150X200X175

        160X225X185

        170X260X193

        Precool/Preheat Range

        -00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃
        Shocking Range -10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃

        Time Range

        0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

        Resolution

        0.01℃/min

        Temperature Uniformity ±3.00℃以內(under℃3.00℃)
        Range of temperature variation(℃/min) +5℃~+30℃/min(+40℃)

        (Three boxes)range of box brushing

        -65℃~+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃)

        (Two boxes)range of box brushing

        -55℃~+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃)

         

        * 以上規格僅供參考,如有變更不另行通知。

         

        查看試驗條件    ◎ 查看RAMP試驗溫變率列表

         

          溫度可控制速率列表

         

        TSR(斜率可控制)
        [5℃30 ℃/min]
         

         

         

        30℃/min→

        電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗

        28℃/min→

        LED汽車照明燈

        25℃/min→

        PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

        24℃/min→

        光纖連接頭

        20℃/min→

        IPC-9701 、覆晶技術的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號 比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命

         

        17℃/min→

        MOTO

        15℃/min→

        IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、 汽車引擎蓋下環境)

        11℃/min→

        無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

        10℃/min→

        通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試

        5℃/min→

        錫須溫度循環試驗

         

         

         

         

         

          產品選型示意圖

         









        Low Temperature
            #3=-40℃-125℃ 
            #4=-55℃-125℃ 


        Lnner dimension:(W*D*H) 
                A=40*35*30cm
                B=50*40*40cm
                C=60*50*50cm
                D=70*60*60cm
                E=USTOMER SIZE



        應力篩選型冷熱沖擊試驗機系列




        BAOYT test equipment co.,ltd

         

        注:溫濕度分布均度測試方法依照內箱離各邊1/10距離有效空間量測(GB5170.18-57)

         

         
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